Università degli Studi di Roma "Tor Vergata"

Introduzione alla Scienza e Tecnologia su scala Nanometrica. Tecniche di Superficie in Ultra Alto Vuoto e Struttura delle Superfici Solide.
La Microscopia di sonda a Scansione: in particolare la Microscopia a Scansione a Effetto Tunnel, in Vuoto e in Liquido (EC_STM) e La Microscopia a Forza Atomica In particolare sono individuati i principi teorici di funzionamento , l’apparato sperimentale e l’analisi dei dati e delle possibili informazioni deducibili dalle diverse tecniche di acquisizione.
La Microscopia Elettronica : in particolare in Trasmissione (TEM) e in Scansione (SEM).
Le Tecniche spettroscopiche basate sull’utilizzo dei fasci ionici quali il Cannone a Ioni Focalizzato (FIB).
Le tecniche Ottiche sensibili alla superficie (Epiottica) quali la Spettroscopia di Riflettivita’ Anisotropa (RAS) e la spettroscopia RAMAN.
Per finire uno sguardo alle moderne tecniche di litografia su scala nanometrica quali la Nanolitografia basata sull’Autorganizzazione e la Nanostrutturazione Artificiale e Naturale dei materiali e delle Nanostrutture.

1. Introduction to Nanoscale Science and Technology” Ed by M. Di Ventra, S. Evoy, J.R. Heflin Cap 1, Cap. 2, Cap. 4-6 Cap. 12
2. Grosso and Pastori Parravicini “Solid Stete Physics”, Cap 2
3.Microscopia SPM Dawn Bonnell: Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques and Application Cap 2 tutto, Cap 3 tutto, Cap 4 tutto 3.
4. Microscopia STM C. J. Chen:’Introduction to Scanning Tunneling Microscopy’: Cap. 1 tutto,
5. Microscopia SPM Hamers, Ann. Phys Chem 1989 vol 40, pag 531 “Atomic Resolution Surface Spectroscopy with the Scanning Tunneling Microscope”
6. Microscopia Elettronica :Weile Zhou & Zhong Lin Wang “Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications” , Springer
7. G. Ertl, J. Küppers, “Low Energy Electrons and Surface Chemistry”, VCH, Weinheim (1985).
8.D. Briggs and M. Seah “Practical surface analysis“ Wiley, Chichester (1993)

Introduzione alla Scienza e Tecnologia su scala Nanometrica. Tecniche di Superficie in Ultra Alto Vuoto e Struttura delle Superfici Solide.
La Microscopia di sonda a Scansione: in particolare la Microscopia a Scansione a Effetto Tunnel, in Vuoto e in Liquido (EC_STM) e La Microscopia a Forza Atomica In particolare sono individuati i principi teorici di funzionamento , l’apparato sperimentale e l’analisi dei dati e delle possibili informazioni deducibili dalle diverse tecniche di acquisizione.
La Microscopia Elettronica : in particolare in Trasmissione (TEM) e in Scansione (SEM).
Le Tecniche spettroscopiche basate sull’utilizzo dei fasci ionici quali il Cannone a Ioni Focalizzato (FIB).
Le tecniche Ottiche sensibili alla superficie (Epiottica) quali la Spettroscopia di Riflettivita’ Anisotropa (RAS) e la spettroscopia RAMAN.
Per finire uno sguardo alle moderne tecniche di litografia su scala nanometrica quali la Nanolitografia basata sull’Autorganizzazione e la Nanostrutturazione Artificiale e Naturale dei materiali e delle Nanostrutture.

1. Introduction to Nanoscale Science and Technology” Ed by M. Di Ventra, S. Evoy, J.R. Heflin Cap 1, Cap. 2, Cap. 4-6 Cap. 12
2. Grosso and Pastori Parravicini “Solid Stete Physics”, Cap 2
3.Microscopia SPM Dawn Bonnell: Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques and Application Cap 2 tutto, Cap 3 tutto, Cap 4 tutto 3.
4. Microscopia STM C. J. Chen:’Introduction to Scanning Tunneling Microscopy’: Cap. 1 tutto,
5. Microscopia SPM Hamers, Ann. Phys Chem 1989 vol 40, pag 531 “Atomic Resolution Surface Spectroscopy with the Scanning Tunneling Microscope”
6. Microscopia Elettronica :Weile Zhou & Zhong Lin Wang “Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications” , Springer
7. G. Ertl, J. Küppers, “Low Energy Electrons and Surface Chemistry”, VCH, Weinheim (1985).
8.D. Briggs and M. Seah “Practical surface analysis“ Wiley, Chichester (1993)